1. Metodu ta 'rappreżentazzjoni tal-gradi tal-azzar tas-silikon Ċiniż:
(1) Strixxa tal-azzar tas-silikon mhux orjentata rrumblata fil-kesħa (folja)
Metodu ta 'rappreżentazzjoni: 100 darba ta' DW + valur tat-telf tal-ħadid (il-valur tat-telf tal-ħadid għal kull unità ta 'piż bi frekwenza ta' 50HZ u valur massimu ta 'induzzjoni manjetika sinusojdali ta' 1.5T.) + 100 darba tal-valur tal-ħxuna.
Pereżempju, DW470-50 jirrappreżenta azzar tas-silikon mhux orjentat irrumblat fil-kesħa b'valur ta 'telf ta' ħadid ta '4.7w/kg u ħxuna ta' 0.5mm.Il-mudell il-ġdid issa huwa rappreżentat bħala 50W470.
(2) Strixxa ta 'l-azzar tas-silikon orjentata lejn il-kesħa (folja)
Metodu ta 'rappreżentazzjoni: 100 darba ta' DQ + valur ta 'telf ta' ħadid (il-valur ta 'telf ta' ħadid għal kull unità ta 'piż bi frekwenza ta' 50HZ u valur massimu ta 'induzzjoni manjetika sinusojdali ta' 1.7T.) + 100 darba tal-valur tal-ħxuna.Kultant G huwa miżjud wara l-valur tat-telf tal-ħadid biex jindika induzzjoni manjetika għolja.
Pereżempju, DQ133-30 jirrappreżenta strixxa tal-azzar tas-silikon orjentata lejn il-kesħa (folja) b'valur ta 'telf ta' ħadid ta '1.33 u ħxuna ta' 0.3mm.Il-mudell il-ġdid issa huwa rappreżentat bħala 30Q133.
(3) Pjanċa tal-azzar tas-silikon irrumblat bis-sħana
Pjanċi tal-azzar tas-silikon irrumblati bis-sħana huma rappreżentati minn DR u huma maqsuma f'azzar tas-silikon baxx (kontenut tas-silikon ≤ 2.8%) u azzar tas-silikon għoli (kontenut tas-silikon > 2.8%) skont il-kontenut tas-silikon.
Metodu ta 'rappreżentazzjoni: DR + 100 darba tal-valur tat-telf tal-ħadid (il-valur tat-telf tal-ħadid għal kull unità ta' piż meta l-valur massimu tal-intensità tal-induzzjoni manjetika b'manjetizzazzjoni ripetuta ta '50HZ u bidla sinusojdali huwa 1.5T) + 100 darba tal-valur tal-ħxuna.Pereżempju, DR510-50 jirrappreżenta pjanċa tal-azzar tas-silikon irrumblat bis-sħana b'valur ta 'telf ta' ħadid ta '5.1 u ħxuna ta' 0.5mm.
Il-grad ta 'folja ta' l-azzar tas-silikon irrumblat bis-sħana għal apparat tad-dar huwa rappreżentat minn JDR + valur ta 'telf ta' ħadid + valur ta 'ħxuna, bħal JDR540-50.
2. Metodu ta 'rappreżentazzjoni tal-gradi tal-azzar tas-silikon Ġappuniż:
(1) Strixxa tal-azzar tas-silikon mhux orjentata rrumblata kiesħa
Huwa magħmul mill-ħxuna nominali (valur estiż b'100 darba) + numru tal-kodiċi A + valur garantit tat-telf tal-ħadid (valur miksub billi jespandi l-valur tat-telf tal-ħadid b'100 darba meta l-frekwenza hija 50HZ u d-densità massima tal-fluss manjetiku hija 1.5 T).
Pereżempju, 50A470 jirrappreżenta strixxa tal-azzar tas-silikon mhux orjentata cold-rolled bi ħxuna ta '0.5mm u valur ta' telf ta 'ħadid garantit ta' ≤4.7.
(2) Strixxa ta 'l-azzar tas-silikon orjentata lejn il-kesħa
Mill-ħxuna nominali (valur estiż b'100 darba) + kodiċi G: li jindika materjali ordinarji, P: li jindika materjali ta 'orjentazzjoni għolja + valur garantit ta' telf tal-ħadid (espansjoni tal-valur tat-telf tal-ħadid b'100 darba meta l-frekwenza hija 50HZ u l-fluss manjetiku massimu densità hija 1.7T valur wara).
Pereżempju, 30G130 jirrappreżenta strixxa tal-azzar tas-silikon orjentata lejn il-kesħa bi ħxuna ta '0.3mm u valur ta' telf ta 'ħadid garantit ta' ≤1.3.
Ħin tal-post: Apr-09-2024